一、EMC檢測的核心目標(biāo)

1. 電磁干擾（EMI）：評估設(shè)備產(chǎn)生的電磁騷擾對其他設(shè)備的影響。
2. 電磁抗擾度（EMS）：評估設(shè)備在外部電磁干擾下的穩(wěn)定性和可靠性。

二、核心檢測項目及要求

1. 電磁干擾（EMI）測試

• 測試目的：測量設(shè)備通過電源線或信號線向外發(fā)射的電磁騷擾水平。
• 頻率范圍：150 kHz - 30 MHz（依據(jù)CISPR 15或FCC Part 15）。
• 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)：
  • EN 55015（歐盟）
  • CISPR 15（國際）
  • GB/T 17743（中國）
• 限值要求：根據(jù)設(shè)備功率和應(yīng)用場景（家用、工業(yè)）分級判定。

• 測試目的：評估設(shè)備通過空間輻射的電磁波對其他設(shè)備的干擾。
• 頻率范圍：30 MHz - 1 GHz（部分標(biāo)準(zhǔn)擴(kuò)展到6 GHz）。
• 測試環(huán)境：電波暗室（SAC）或開放場測試（OATS）。
• 限值要求：需滿足準(zhǔn)峰值（QP）和平均值（AV）檢波器的限值。

• 測試目的：評估設(shè)備對電網(wǎng)的諧波污染程度。
• 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：IEC 61000-3-2（Class C適用于照明設(shè)備）。
• 諧波次數(shù)：2次至40次，重點關(guān)注奇次諧波（如3次、5次、7次）。

• 測試目的：評估設(shè)備運行時對電網(wǎng)電壓穩(wěn)定性的影響。
• 測試方法：模擬設(shè)備開關(guān)機(jī)或功率變化時的電壓波動（IEC 61000-3-3）。

2. 電磁抗擾度（EMS）測試

• 測試等級：接觸放電±4 kV / 空氣放電±8 kV（IEC 61000-4-2）。
• 判定標(biāo)準(zhǔn)：設(shè)備在測試后需保持正常功能，無性能降級。

• 測試頻率：80 MHz - 6 GHz，場強(qiáng)3 V/m（工業(yè)環(huán)境需更高等級）。
• 判定標(biāo)準(zhǔn)：設(shè)備在干擾下應(yīng)無功能失效或誤動作。

• 測試目的：模擬電網(wǎng)中開關(guān)切換產(chǎn)生的瞬態(tài)干擾（如繼電器動作）。
• 測試參數(shù)：±2 kV（電源端口）、±1 kV（信號端口），依據(jù)IEC 61000-4-4。

• 測試目的：驗證設(shè)備對雷擊或大功率設(shè)備啟停引起的浪涌沖擊的耐受能力。
• 測試等級：線-線±1 kV，線-地±2 kV（IEC 61000-4-5）。

• 測試目的：模擬電網(wǎng)短時電壓跌落或斷電對設(shè)備的影響（IEC 61000-4-11）。
• 判定要求：設(shè)備在電壓恢復(fù)后應(yīng)能自動重啟或保持預(yù)設(shè)狀態(tài)。

三、特殊場景的附加測試

1. 調(diào)光器兼容性測試：驗證照明設(shè)備與調(diào)光系統(tǒng)的匹配性（如PWM調(diào)光干擾）。
2. 無線控制設(shè)備（如藍(lán)牙/Wi-Fi燈具）：需額外評估射頻功能對EMC的影響（ETSI EN 300 328）。
3. 智能照明系統(tǒng)：需考慮多設(shè)備組網(wǎng)時的協(xié)同EMC性能。

四、測試流程與常見問題

1. 測試流程：
   • 樣品準(zhǔn)備 → 預(yù)測試摸底 → 正式測試 → 整改（如未通過） → 生成報告。
2. 典型失效原因：
   • 電源電路濾波不足（傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)）。
   • PCB布局不合理（輻射騷擾或抗擾度差）。
   • 接地設(shè)計缺陷（浪涌測試失敗）。
3. 對策建議：
   • 優(yōu)化濾波電路（如增加共模電感、X/Y電容）。
   • 采用屏蔽外殼或金屬涂層。
   • 軟件抗干擾設(shè)計（如看門狗電路、冗余校驗）。

五、