光纖寬帶耦合器檢測項目詳解
一、光學性能檢測
1. 插入損耗(Insertion Loss, IL)
- 定義:光信號通過耦合器后的功率衰減量。
- 檢測方法:使用光功率計和穩定光源,測量輸入端與輸出端的功率差值。
- 標準:單模耦合器典型值≤0.3 dB,多模耦合器≤0.5 dB。
- 意義:損耗過高會導致信號傳輸效率下降,影響網絡覆蓋范圍。
2. 分光比(Split Ratio)
- 定義:輸出端口的功率分配比例(如50:50、70:30)。
- 檢測方法:通過光譜分析儀或光功率計測量各輸出端功率,計算比例。
- 關鍵點:需在寬波長范圍(如1310/1550 nm)內驗證分光比一致性。
3. 回波損耗(Return Loss, RL)
- 定義:輸入端反射光功率與入射光功率之比。
- 檢測方法:使用光回損測試儀(OCWR)或OTDR測量反射信號。
- 標準:通常要求≥55 dB,高反射會引發信號干擾和光源不穩定。
4. 偏振相關損耗(PDL)
- 定義:不同偏振態光信號通過耦合器后的最大損耗差異。
- 檢測方法:結合偏振控制器和光譜分析儀,測試全偏振態下的損耗波動。
- 典型值:PDL≤0.1 dB(高端器件要求更嚴格)。
5. 帶寬與波長響應
- 檢測內容:驗證耦合器在標稱波長范圍(如1260~1650 nm)內的性能穩定性。
- 工具:光譜分析儀或可調諧激光器。
二、機械性能檢測
1. 抗拉強度測試
- 方法:對光纖尾纖施加軸向拉力(通常≥5 N),持續1分鐘,觀察連接處是否斷裂或性能劣化。
- 標準:符合IEC 61300-2-21。
2. 彎曲測試
- 步驟:將耦合器纏繞在標準直徑圓柱體(如Φ30 mm)上,測試多次彎曲后的插入損耗變化。
- 目標:確保安裝過程中光纖彎曲不影響性能。
3. 振動與沖擊測試
- 條件:模擬運輸或使用中的機械應力,如頻率10
55 Hz、加速度25 g的隨機振動。 - 評估:振動后光學參數變化需在±0.1 dB范圍內。
三、環境可靠性測試
1. 高低溫循環測試
- 范圍:-40℃至+85℃,循環次數≥50次。
- 監測:記錄極端溫度下的插入損耗和分光比漂移。
- 意義:驗證器件在戶外或極端氣候下的穩定性。
2. 濕熱老化測試
- 條件:溫度85℃、濕度85% RH,持續1000小時。
- 標準:測試后性能變化需符合Telcordia GR-1209-CORE要求。
3. 鹽霧測試(可選)
- 適用場景:沿海或工業污染環境使用的器件。
- 方法:依據IEC 60068-2-11,模擬鹽霧腐蝕環境。
四、安全性檢測
1. 阻燃性測試
- 標準:UL94 V-0或IEC 60793-2防火等級要求。
- 方法:對耦合器外殼材料進行垂直燃燒測試,評估火焰蔓延速度和自熄時間。
2. 電氣絕緣性
- 檢測對象:含金屬部件的耦合器(如金屬化封裝)。
- 指標:絕緣電阻≥1000 MΩ(500 V DC下)。
五、附加檢測項目
- 端面清潔度檢查:使用光纖顯微鏡觀察連接器端面劃痕、污染情況。
- 封裝氣密性測試:針對密封型耦合器,檢測氦氣泄漏率(如≤5×10?? Pa·m³/s)。
- 長期穩定性測試:持續通電工作1000小時,監測參數漂移。
總結
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