ST/PC型單模光纖光纜活動連接器檢測項目詳解

一、引言

二、核心檢測項目及方法

1. 光學性能檢測

• • 目的：衡量光信號通過連接器時的能量損失。
  • 測試方法： 使用穩(wěn)定光源（1550nm或1310nm）發(fā)射光信號，通過光功率計分別測量直通鏈路（無連接器）和插入連接器后的功率值，按公式計算： ??=−10log?10(?out?in)(單位：dB)IL=−10log10?(Pin?Pout??)(單位：dB)
  • 標準：IEC 61753-1（≤0.3dB為合格）。
  • 設備：光源、光功率計、光纖校準跳線。
• • 目的：評估端面反射對信號的影響。
  • 測試方法： 使用光時域反射儀（OTDR）或光連續(xù)波反射計（OCDR），測量反射光功率與入射光功率比值： ??=−10log?10(?reflected?incident)(單位：dB)RL=−10log10?(Pincident?Preflected??)(單位：dB)
  • 標準：IEC 61753-1（≥40dB為合格）。

2. 端面幾何參數(shù)檢測

• • 目的：確保端面球面曲率適配，避免接觸不良。
  • 測試方法：使用光纖干涉儀分析端面三維形貌，計算曲率半徑。
  • 標準：IEC 61300-3-35（PC型：10-25mm）。
• • 目的：檢查光纖核心與端面最高點的偏差。
  • 測試方法：干涉儀測量端面頂點與光纖軸心的橫向偏移量。
  • 標準：≤50μm（IEC 61300-3-35）。
• • 目的：確保光纖凸出或凹陷在允許范圍內。
  • 測試方法：干涉儀測量光纖端面相對于插芯表面的高度。
  • 標準：-50nm至+50nm（Telcordia GR-326）。

3. 機械性能測試

• • 方法：使用自動插拔測試機模擬500次插拔，監(jiān)測IL和RL變化。
  • 標準：IEC 61753-1（插拔后損耗變化≤0.2dB）。
• • 方法：施加≥40N的拉力（IEC 61300-2-4），持續(xù)1分鐘，檢查連接器是否脫落或損壞。
• • 方法：固定連接器一端，另一端施加0.3N·m扭矩，轉動180°（IEC 61300-2-7）。

4. 環(huán)境適應性測試

• • 條件：-40℃至+70℃循環(huán)，48小時（IEC 61300-2-22）。
  • 判定：外觀無開裂，IL波動≤0.2dB。
• • 條件：溫度85℃、濕度85% RH，持續(xù)168小時。
  • 判定：金屬部件無銹蝕，性能符合標準。
• • 振動：10-55Hz正弦掃頻，3軸各2小時（IEC 60068-2-6）。
  • 沖擊：峰值加速度500m/s²，半正弦波（IEC 60068-2-27）。

5. 外觀與互換性檢查

• 端面劃痕檢測：顯微鏡觀察端面，符合IEC 61300-3-35劃痕等級（如≤Grade B）。
• 互換性：隨機選取10對連接器互配，插入損耗差異≤0.1dB。

三、測試設備清單

四、

參考文獻

1. IEC 61753-1:2018 光纖連接器性能標準
2. IEC 61300-3-35:2015 光纖連接器端面檢測方法
3. Telcordia GR-326-CORE:2011 單模光纖連接器通用要求