測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備(EMC)檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測(cè)設(shè)備,研究所長(zhǎng)期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系,始終以科學(xué)研究為首任,以客戶為中心,不斷提高自身綜合檢測(cè)能力和水平,致力于成為全國(guó)科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺(tái)。
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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。
聯(lián)系中化所
測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的EMC檢測(cè)項(xiàng)目詳解
一、EMC檢測(cè)的目的
二、核心檢測(cè)項(xiàng)目
(一)電磁發(fā)射(EMI)測(cè)試
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- 頻率范圍:150 kHz - 30 MHz
- 測(cè)試內(nèi)容:測(cè)量設(shè)備通過(guò)電源線或信號(hào)線傳導(dǎo)到電網(wǎng)的高頻干擾信號(hào)。
- 限值要求:根據(jù)設(shè)備使用環(huán)境(如工業(yè)或?qū)嶒?yàn)室)分為A類(工業(yè)環(huán)境)和B類(民用環(huán)境),B類限值更嚴(yán)格。
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- 頻率范圍:30 MHz - 6 GHz
- 測(cè)試內(nèi)容:測(cè)量設(shè)備通過(guò)空間輻射的電磁場(chǎng)強(qiáng)度。
- 測(cè)試方法:在電波暗室中采用天線接收輻射信號(hào),對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)限值。
(二)電磁抗擾度(EMS)測(cè)試
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-2
- 測(cè)試等級(jí):接觸放電±4 kV / ±8 kV,空氣放電±8 kV / ±15 kV。
- 測(cè)試部位:設(shè)備外殼、操作面板、連接器等可接觸部位。
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-3
- 頻率范圍:80 MHz - 6 GHz
- 測(cè)試方法:通過(guò)天線對(duì)設(shè)備施加射頻場(chǎng)強(qiáng)(3 V/m或10 V/m),觀察設(shè)備是否誤動(dòng)作。
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-4
- 測(cè)試等級(jí):電源端口±1 kV / ±2 kV,信號(hào)端口±0.5 kV。
- 模擬場(chǎng)景:開(kāi)關(guān)操作、繼電器觸點(diǎn)抖動(dòng)引起的瞬態(tài)干擾。
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-5
- 測(cè)試等級(jí):電源線±1 kV / ±2 kV(線-地),±0.5 kV(線-線)。
- 模擬場(chǎng)景:雷擊或大功率設(shè)備切換引起的過(guò)電壓。
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-6
- 頻率范圍:150 kHz - 80 MHz
- 測(cè)試方法:通過(guò)耦合鉗向電源線或信號(hào)線注入射頻干擾信號(hào)。
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-8
- 測(cè)試等級(jí):1 A/m - 100 A/m(適用于靠近大電流設(shè)備的場(chǎng)景)。
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- 標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-11
- 測(cè)試內(nèi)容:模擬電網(wǎng)電壓短時(shí)跌落(如40%電壓持續(xù)10 ms)或中斷,驗(yàn)證設(shè)備重啟功能。
三、特殊環(huán)境下的附加測(cè)試
- 醫(yī)療實(shí)驗(yàn)室設(shè)備:需符合IEC 60601-1-2標(biāo)準(zhǔn),增加對(duì)生命支持設(shè)備的抗擾度要求。
- 工業(yè)控制設(shè)備:在嚴(yán)酷電磁環(huán)境中需提高測(cè)試等級(jí)(如射頻場(chǎng)強(qiáng)增強(qiáng)至10 V/m)。
- 車載實(shí)驗(yàn)室設(shè)備:參考ISO 11452系列標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射和抗擾度。
四、測(cè)試流程與判定
- 預(yù)測(cè)試(Pre-test):在正式測(cè)試前進(jìn)行摸底測(cè)試,識(shí)別潛在問(wèn)題。
- 正式測(cè)試:按標(biāo)準(zhǔn)逐項(xiàng)執(zhí)行,記錄數(shù)據(jù)。
- 結(jié)果判定:
- A級(jí):設(shè)備在測(cè)試中功能正常,無(wú)性能下降。
- B級(jí):測(cè)試中功能暫時(shí)喪失,但可自動(dòng)恢復(fù)。
- C級(jí):需人工干預(yù)才能恢復(fù)(可能判定為不合格)。
五、注意事項(xiàng)
- 設(shè)備分類:明確設(shè)備屬于A類(工業(yè))或B類(民用),不同類別限值差異顯著。
- 文檔準(zhǔn)備:提供電路圖、使用手冊(cè)、關(guān)鍵元器件清單(如濾波器、屏蔽材料)。
- 整改措施:常見(jiàn)問(wèn)題包括接地不良、濾波器失效、PCB布局不合理,需針對(duì)性優(yōu)化。
六、總結(jié)
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