模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）檢測：核心檢測項(xiàng)目詳解

一、靜態(tài)參數(shù)檢測

1. • 目的：檢測零輸入時(shí)輸出碼的偏差。
   • 方法：輸入0V電壓，測量輸出碼與理想值（通常為中間碼）的差值。
   • 設(shè)備：高精度電壓源、數(shù)字萬用表。
2. • 目的：檢測滿量程輸入時(shí)的輸出偏差。
   • 方法：輸入?yún)⒖茧妷海╒ref），測量輸出碼與理論最大值（如2^N-1）的差異。
3. • 目的：評估實(shí)際轉(zhuǎn)換曲線與理想直線的最大偏差。
   • 方法：逐點(diǎn)輸入遞增電壓，記錄輸出碼，計(jì)算與理想值的差值。
   • 標(biāo)準(zhǔn)：通常以LSB（最低有效位）為單位，要求小于±0.5 LSB。
4. • 目的：檢測相鄰碼之間的步進(jìn)誤差。
   • 方法：計(jì)算實(shí)際步進(jìn)電壓與理想步進(jìn)（1 LSB）的差異。
   • 合格標(biāo)準(zhǔn)：DNL < ±1 LSB（避免丟碼）。

二、動(dòng)態(tài)參數(shù)檢測

1. • 目的：量化信號與噪聲的功率比。
   • 方法：輸入滿幅正弦波，通過FFT分析輸出頻譜，計(jì)算SNR。
   • 設(shè)備：低失真信號發(fā)生器、高速示波器。
2. • 目的：檢測諧波失真對信號的影響。
   • 方法：測量基波與諧波成分的功率比，通常要求THD < -60 dB。
3. • 公式：ENOB = (SNR - 1.76 dB) / 6.02
   • 意義：反映ADC實(shí)際可用精度，受噪聲和失真影響。
4. • 影響：在高速ADC中，時(shí)鐘抖動(dòng)會(huì)導(dǎo)致采樣時(shí)間誤差。
   • 測試方法：輸入高頻正弦波，通過統(tǒng)計(jì)時(shí)間偏差計(jì)算抖動(dòng)值。

三、功能與環(huán)境適應(yīng)性檢測

1. • 目的：測試ADC對電源波動(dòng)的抗干擾能力。
   • 方法：改變電源電壓，觀察輸出碼的變化。
2. • 測試條件：在高溫（如85°C）和低溫（-40°C）下重復(fù)靜態(tài)參數(shù)測試。
   • 參數(shù)：偏移/增益誤差的溫度系數(shù)（ppm/°C）。
3. • 方法：向相鄰?fù)ǖ垒斎敫哳l信號，檢測目標(biāo)通道輸出的干擾幅度。
4. • 內(nèi)容：SPI/I2C時(shí)序測試、數(shù)據(jù)輸出格式驗(yàn)證。

四、測試設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)

• 關(guān)鍵設(shè)備：精密信號源、頻譜分析儀、高分辨率示波器、溫控箱。
• 參考標(biāo)準(zhǔn)：IEEE 1241（ADC測試標(biāo)準(zhǔn)）、IEC 60748（半導(dǎo)體器件規(guī)范）。
• 自動(dòng)化測試：利用LabVIEW或Python腳本實(shí)現(xiàn)批量測試，提高效率。

五、測試報(bào)告與

• 測試條件（溫度、電源電壓等）。
• 各項(xiàng)目實(shí)測數(shù)據(jù)與規(guī)格書對比。
• 不合格項(xiàng)分析及改進(jìn)建議。