微控制器檢測
發(fā)布時間:2025-08-25 08:07:19- 點擊數(shù): - 關(guān)鍵詞:
實驗室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測設(shè)備,研究所長期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系,始終以科學(xué)研究為首任,以客戶為中心,不斷提高自身綜合檢測能力和水平,致力于成為全國科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺。
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一、功能測試(Functional Testing)
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- 指令集執(zhí)行正確性:通過定制測試代碼驗證算術(shù)運算、邏輯操作、中斷響應(yīng)等核心指令的準(zhǔn)確性。
- 寄存器讀寫測試:驗證通用寄存器、特殊功能寄存器(SFR)及堆棧操作的完整性。
- 時鐘系統(tǒng)檢測:主時鐘(HSE/HSI)、低速時鐘(LSE/LSI)切換測試,時鐘失效保護機制驗證。
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- GPIO:端口方向配置、輸入電平中斷觸發(fā)、輸出驅(qū)動強度(如推挽/開漏模式)測試。
- ADC/DAC:線性度(INL/DNL)、有效位數(shù)(ENOB)、采樣速率及抗噪聲能力評估。
- 定時器/PWM:計數(shù)器溢出誤差(±0.1%典型值)、PWM占空比精度(分辨率≤1%)、輸入捕獲響應(yīng)時間。
- 通信接口:
- UART:波特率容錯測試(如±3%偏差下的數(shù)據(jù)正確性)。
- SPI/I2C:主從模式切換、時鐘極性與相位匹配性驗證。
- CAN/USB:協(xié)議一致性測試(使用CANoe/USB分析儀檢測報文錯誤率)。
二、電氣特性測試(Electrical Characterization)
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- 供電電流:休眠模式(<1µA)、運行模式(mA級)及不同時鐘頻率下的動態(tài)電流曲線。
- 電壓容限:最低工作電壓(VDDmin)、抗電壓跌落能力(如3.3V系統(tǒng)耐受2.8V持續(xù)10ms)。
- 引腳漏電流:高阻態(tài)下輸入/輸出引腳泄漏電流(通常要求<1µA)。
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- 信號完整性:使用示波器測量高速信號(如SPI CLK≥50MHz)的上升時間(tr)、過沖(<20% VDD)。
- ESD防護等級:HBM(人體放電模型)≥8kV,CDM(器件放電模型)≥1kV。
三、環(huán)境適應(yīng)性測試(Environmental Testing)
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- 工作溫度范圍:-40°C至+85°C(工業(yè)級)或-40°C至+125°C(車規(guī)級)。
- 溫度沖擊:在-55°C與+150°C之間快速切換(轉(zhuǎn)換速率≥10°C/min),驗證熱應(yīng)力下的功能穩(wěn)定性。
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- 濕熱試驗:85°C/85% RH條件下持續(xù)1000小時,檢測引腳氧化及內(nèi)部結(jié)露風(fēng)險。
- 機械振動:根據(jù)MIL-STD-883標(biāo)準(zhǔn)進行隨機振動(20-2000Hz, 7Grms),評估焊點可靠性。
四、通信與協(xié)議一致性測試
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- CAN總線:錯誤幀檢測、重傳機制及總線負載率(≤70%)下的通信成功率。
- USB協(xié)議:枚舉過程合規(guī)性測試(描述符結(jié)構(gòu)、電源協(xié)商)。
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- RF性能:發(fā)射功率(如BLE的0dBm±2dB)、接收靈敏度(-96dBm@1Mbps)。
- 頻譜雜散:符合FCC/CE標(biāo)準(zhǔn)(帶外輻射≤-30dBm)。
五、安全性測試(Security Validation)
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- 加密啟動:驗證AES-128/256加密固件的防篡改機制。
- 調(diào)試接口鎖定:測試JTAG/SWD端口禁用后的非法訪問攔截能力。
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- 功耗分析(DPA):監(jiān)測運行加密算法時的電流波動,評估信息泄露風(fēng)險。
- 故障注入測試:通過電壓毛刺或激光攻擊觸發(fā)異常行為,檢測安全響應(yīng)機制。
六、壽命與可靠性評估
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- 高溫加速老化:125°C環(huán)境下連續(xù)運行500小時,篩選早期失效器件。
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- Flash擦寫次數(shù):驗證10萬次擦寫后的數(shù)據(jù)保持能力(@85°C保持10年)。
- EEPROM壽命:滿足100萬次寫入周期的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
七、生產(chǎn)一致性測試
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- 在線測試(ICT):通過飛針測試機驗證PCB焊接質(zhì)量及短路/開路缺陷。
- 功能終檢(FCT):運行自動化測試腳本,覆蓋率≥95%。
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- AQL(可接受質(zhì)量水平):按MIL-STD-105E標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行抽樣,嚴(yán)重缺陷AQL≤0.1%。
檢測標(biāo)準(zhǔn)參考
- 國際標(biāo)準(zhǔn):IEC 60747(半導(dǎo)體器件通用規(guī)范)、JESD22(可靠性試驗方法)
- 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):AEC-Q100(車規(guī)級認(rèn)證)、ISO 26262(功能安全)
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