固定電阻檢測(cè)項(xiàng)目詳解

一、基本電氣性能檢測(cè)

1. • 目的：驗(yàn)證電阻實(shí)際阻值與標(biāo)稱(chēng)值的偏差是否在允許范圍內(nèi)（如±1%、±5%）。
   • 方法：使用數(shù)字萬(wàn)用表或LCR電橋直接測(cè)量，計(jì)算偏差百分比： 允許偏差=實(shí)測(cè)值−標(biāo)稱(chēng)值標(biāo)稱(chēng)值×100%允許偏差=標(biāo)稱(chēng)值實(shí)測(cè)值−標(biāo)稱(chēng)值?×100%
   • 標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)IEC 60115-1規(guī)定，常見(jiàn)偏差等級(jí)包括E24（±5%）、E96（±1%）等。
2. • 目的：驗(yàn)證電阻在額定功率下長(zhǎng)期工作的穩(wěn)定性。
   • 方法：施加額定直流或交流電壓，通過(guò)公式 ?=?2/?P=V2/R 計(jì)算功率，持續(xù)1小時(shí)后檢測(cè)溫升及阻值變化（通常要求ΔR＜±2%）。
   • 設(shè)備：可調(diào)電源、功率負(fù)載、紅外測(cè)溫儀。
3. • 目的：評(píng)估電阻值隨溫度變化的特性。
   • 方法：在溫度箱中分別于25℃（基準(zhǔn)）、-55℃和+125℃下測(cè)量阻值，按公式計(jì)算TCR： TCR=??2−??1??1×(?2−?1)×106 (ppm/℃)TCR=RT1?×(T2−T1)RT2?−RT1??×106(ppm/℃)
   • 標(biāo)準(zhǔn)：金屬膜電阻TCR通常為±50~±200 ppm/℃，線(xiàn)繞電阻可達(dá)±1 ppm/℃。
4. • 耐壓測(cè)試：施加2倍額定電壓（或500V DC，取較高者）60秒，無(wú)擊穿或飛弧現(xiàn)象。
   • 絕緣電阻：使用絕緣電阻測(cè)試儀（如500V兆歐表），電阻體與引腳間絕緣電阻應(yīng)＞1 GΩ。

二、環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試

1. • 條件：-55℃（30分鐘）→+125℃（30分鐘），循環(huán)5次。
   • 要求：阻值變化＜±1%，外觀無(wú)開(kāi)裂、涂層脫落。
2. • 條件：溫度40℃±2℃，濕度93%±3%，持續(xù)96小時(shí)。
   • 要求：恢復(fù)24小時(shí)后，ΔR＜±2%，引腳無(wú)氧化銹蝕。
3. • 振動(dòng)測(cè)試：頻率10~500 Hz，加速度20 g，3軸各振動(dòng)2小時(shí)。
   • 沖擊測(cè)試：半正弦波脈沖，加速度100 g，持續(xù)6 ms。
   • 判定：阻值變化＜±0.5%，結(jié)構(gòu)無(wú)松動(dòng)。

三、可靠性及壽命測(cè)試

1. • 方法：在70℃環(huán)境下施加1.5倍額定功率，持續(xù)1000小時(shí)，ΔR＜±5%。
   • 意義：模擬長(zhǎng)期過(guò)載工況，評(píng)估材料熱老化性能。
2. • 標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)IPC-J-STD-002，將引腳浸入235℃焊錫中2秒，焊錫覆蓋率＞95%。
   • 常見(jiàn)問(wèn)題：引腳氧化導(dǎo)致虛焊，需進(jìn)行抗氧化預(yù)處理。
3. • 阿倫尼烏斯模型：通過(guò)高溫（如150℃）加速老化，推算電阻在常溫下的使用壽命。

四、外觀及結(jié)構(gòu)檢查

1. • 標(biāo)識(shí)清晰度（標(biāo)稱(chēng)值、公差、生產(chǎn)批次）。
   • 引腳無(wú)彎曲、氧化或污染。
2. • 使用卡尺驗(yàn)證引腳間距、本體尺寸是否符合規(guī)格書(shū)。

五、特殊電阻的附加測(cè)試

• 熔斷電阻：需測(cè)試熔斷時(shí)間與電流關(guān)系。
• 高壓電阻：額外進(jìn)行局部放電檢測(cè)。
• 精密電阻：增加噪聲指數(shù)測(cè)試（＜-30 dB）。