觸點尺寸檢測技術及關鍵檢測項目

一、觸點尺寸檢測的重要性

• 導電性：尺寸偏差可能導致接觸面積不足，引發電阻升高或發熱。
• 機械耐久性：尺寸超差可能加速磨損或導致機械卡頓。
• 裝配兼容性：尺寸誤差會影響觸點與匹配部件的插拔性能。

二、核心檢測項目

1. 基礎幾何尺寸

• • 檢測設備：光學測量儀、千分尺、激光測微計。
  • 標準要求：誤差通常控制在±0.01 mm以內（依據產品等級）。
• • 檢測設備：數顯千分尺、三坐標測量機（CMM）。
  • 關鍵點：需排除表面鍍層厚度對測量的干擾。
• • 檢測方法：投影儀比對或影像測量儀自動捕捉輪廓。

2. 形位公差

• • 檢測設備：光學平面干涉儀、CMM。
  • 標準范圍：平面度誤差≤0.005 mm（高精度觸點）。
• • 檢測方法：旋轉式三坐標測量或V型塊配合百分表。
• • 設備選擇：三坐標測量機或精密直角規。

3. 表面特征

• • 檢測設備：表面粗糙度儀（接觸式/非接觸式）。
  • 典型標準：Ra 0.4–1.6 μm（視材料與鍍層而定）。
• • 檢測方法：X射線熒光光譜儀（XRF）或顯微鏡截面分析。

4. 功能性尺寸

• • 設備選擇：影像測量儀或激光位移傳感器。
  • 案例：繼電器觸點間距偏差需≤±0.02 mm。
• • 檢測工具：輪廓投影儀或3D光學掃描儀。

三、檢測設備與技術

1. 光學影像測量儀
   • 適用于復雜輪廓、非接觸測量，精度可達±1 μm。
2. 三坐標測量機（CMM）
   • 用于三維形位公差檢測，需注意探針半徑補償。
3. 激光掃描儀
   • 快速獲取三維點云數據，適合批量檢測。
4. 自動化檢測系統
   • 集成機器視覺與AI算法，實現高速在線檢測。

四、檢測標準與注意事項

• • 國際標準：IEC 60512（電子元件測試）、ISO 1101（幾何公差）。
  • 行業規范：汽車電子需符合AEC-Q200，軍工觸點參考MIL-STD-202。
• • 溫度20±1℃、濕度50%±5%的恒溫恒濕實驗室環境，避免熱脹冷縮影響。
• • 檢測前需清潔觸點表面油脂或氧化物，使用無塵手套操作。

五、常見問題與解決方案

1. • 原因：設備振動或夾具松動。
   • 對策：采用氣浮隔震臺并校準夾具。
2. • 原因：光學測量中鍍層反光干擾。
   • 對策：調整光源角度或使用偏振濾光片。
3. • 方案：選用超景深顯微鏡配合納米級探針。

六、總結