紋波抑制比檢測：核心檢測項目詳解

一、檢測目標

二、核心檢測項目

1. • 輸入/輸出電壓范圍：確認DUT在標稱輸入電壓（如5V±10%）及額定輸出電流下的正常工作狀態。
   • 靜態電流與效率：排除因自身功耗或效率問題導致的額外噪聲干擾。
2. • 設備需求：
     • 信號發生器：注入頻率可調（10Hz–1MHz）、幅度可調（如10mVpp–1Vpp）的交流紋波。
     • 示波器/頻譜分析儀：測量輸入/輸出端紋波幅度，建議使用高分辨率（≥12bit）示波器。
     • 直流電源：提供穩定的直流偏置電壓。
   • 步驟：
     1. 將信號發生器串聯至直流電源輸出端，疊加交流紋波。
     2. 使用示波器分別測量輸入（V_in）和輸出（V_out）端的紋波峰峰值或有效值。
     3. 計算RRR： ???(??)=20log?10(???????−?????????−???)RRR(dB)=20log10?(Vripple−out?Vripple−in??)
3. • 關鍵頻率：50Hz（工頻干擾）、100Hz（整流紋波）、1kHz、10kHz、100kHz（開關噪聲）、1MHz（高頻干擾）。
   • 方法：逐點注入各頻率紋波，記錄對應RRR，繪制頻率-RRR曲線，識別抑制能力薄弱頻段。
4. • 條件：在輕載（10%額定電流）、半載（50%）、滿載（100%）下重復測試。
   • 設備：使用電子負載模擬不同電流需求。
   • 目的：評估負載變化對RRR的影響，尤其是開關電源在輕載時可能出現的環路穩定性問題。
5. • 溫度范圍：常溫（25℃）、高溫（85℃）、低溫（-40℃）。
   • 設備：高低溫試驗箱。
   • 關注點：高溫下半導體器件特性漂移可能導致RRR下降，低溫時電容ESR升高影響濾波效果。
6. • 測試點：輸入電壓下限（如4.5V）、標稱值（5V）、上限（5.5V）。
   • 分析：低壓輸入時，DUT內部環路增益可能降低，導致高頻抑制能力減弱。

三、測試注意事項

1. • 采用星型接地，避免地環路引入額外噪聲。
   • 使用屏蔽電纜和法拉第籠隔離外部干擾。
2. • 示波器探頭需進行阻抗匹配和衰減校準，確保高頻信號測量準確。
3. • 對于開關電源，需注意測量帶寬限制，避免遺漏高頻諧波成分。
4. • 每個測試點至少重復3次，取平均值，并記錄最大值/最小值以評估一致性。

四、測試結果分析

• 合格判定：對比實測RRR與規格書要求（如典型值≥60dB@100Hz）。
• 問題診斷：
  • 低頻抑制不足：檢查濾波電容容量及ESR。
  • 高頻抑制差：優化布局電感或添加高頻去耦電容。
  • 溫度敏感：確認器件熱設計或選擇寬溫元件。

五、總結