高溫下的反向電流檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)室擁有眾多大型儀器及各類(lèi)分析檢測(cè)設(shè)備,研究所長(zhǎng)期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系,始終以科學(xué)研究為首任,以客戶(hù)為中心,不斷提高自身綜合檢測(cè)能力和水平,致力于成為全國(guó)科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺(tái)。
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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。
聯(lián)系中化所
- 反向飽和電流(Is)溫度譜
- 測(cè)試范圍:-40℃至200℃溫度跨度
- 數(shù)據(jù)采集:每5℃間隔記錄穩(wěn)定值
- 關(guān)鍵參數(shù):激活能Ea計(jì)算(Arrhenius方程擬合)
- 合格標(biāo)準(zhǔn):斜率突變點(diǎn)識(shí)別(預(yù)示結(jié)構(gòu)缺陷)
- 擊穿電壓溫度系數(shù)
- 梯度測(cè)試:BV@25℃至BV@Tmax線(xiàn)性度檢測(cè)
- 測(cè)試方法:階梯升溫下的軟擊穿特性?huà)呙?/li>
- 失效判據(jù):溫度系數(shù)絕對(duì)值>0.3%/℃
- 動(dòng)態(tài)漏電流響應(yīng)
- 測(cè)試條件:脈沖偏壓(ton=1ms, toff=10ms)
- 測(cè)量參數(shù):瞬態(tài)峰值電流與穩(wěn)態(tài)值比
- 特征分析:電流衰減時(shí)間常數(shù)τ提取
- 熱載流子注入效應(yīng)
- 加速測(cè)試:Vr=1.2×Vrmax @Tj=175℃
- 退化監(jiān)測(cè):72小時(shí)持續(xù)應(yīng)力下的ΔIs變化率
- 失效閾值:漏電流增幅>300%判為失效
- 熱失控臨界點(diǎn)測(cè)試
- 方法:閉環(huán)溫控系統(tǒng)下的正反饋檢測(cè)
- 關(guān)鍵指標(biāo):dI/dT轉(zhuǎn)折溫度定位
- 安全裕度:Tcritical需高于工況溫度20%
- 長(zhǎng)期高溫可靠性
- 測(cè)試流程:1000小時(shí)HTRB試驗(yàn)(150℃,80%Vr)
- 退化模型:Weibull分布參數(shù)擬合
- 壽命預(yù)測(cè):Arrhenius加速模型外推
- 亞皮安級(jí)測(cè)量系統(tǒng)
- 采用靜電屏蔽探針臺(tái)(<0.5pA底噪)
- 三同軸電纜連接配置
- 數(shù)字鎖相放大技術(shù)應(yīng)用
- 175℃時(shí)反向漏電流達(dá)25μA(超標(biāo)3倍)
- 溫度系數(shù)-0.45%/℃(超出允許范圍)
- 熱失控臨界點(diǎn)162℃(低于設(shè)計(jì)需求)
- 175℃漏電流降至8μA
- 溫度系數(shù)改善為-0.25%/℃
- 熱失控點(diǎn)提升至192℃
- 高溫反向偏置(HTRB)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)增至2000h
- 引入動(dòng)態(tài)溫度循環(huán)(DTC)測(cè)試項(xiàng)
- 要求提供完整溫度-電流導(dǎo)數(shù)曲線(xiàn)

