光發(fā)射器件的半強(qiáng)度角和角偏差檢測：核心檢測項(xiàng)目與方法

引言

一、檢測參數(shù)定義

二、核心檢測項(xiàng)目

1. • 設(shè)備：測角旋轉(zhuǎn)平臺、光功率計(jì)/光譜儀、恒流電源、溫控箱。
   • 測試條件：
     • 環(huán)境溫度：25±1℃（參照IEC 60747標(biāo)準(zhǔn)）。
     • 驅(qū)動(dòng)電流：額定值±5%。
   • 步驟：
     1. 固定器件于旋轉(zhuǎn)平臺，對齊光軸。
     2. 以1°~5°步長旋轉(zhuǎn)，記錄各角度光強(qiáng)。
     3. 繪制極坐標(biāo)圖，確定-3dB點(diǎn)計(jì)算HIA。
   • 標(biāo)準(zhǔn)：CIE 127-2007（LED測量標(biāo)準(zhǔn)）。
2. • 設(shè)備：CCD成像系統(tǒng)、準(zhǔn)直透鏡、位置敏感探測器（PSD）。
   • 關(guān)鍵步驟：
     1. 使用CCD捕捉光斑，圖像處理確定光斑中心。
     2. 對比實(shí)際中心與設(shè)計(jì)基準(zhǔn)，計(jì)算角度偏差。
     3. 重復(fù)測試≥3次，取均值。
   • 允許誤差：通常≤±2°（如汽車照明需≤±0.5°）。

三、擴(kuò)展檢測項(xiàng)目

1. • 在-40℃~85℃范圍內(nèi)測試HIA和角偏差，評估溫度穩(wěn)定性。
2. • 改變電流（如50%~150%額定值），觀察參數(shù)漂移。
3. • 模擬運(yùn)輸振動(dòng)后復(fù)測，驗(yàn)證結(jié)構(gòu)可靠性（參照MIL-STD-883）。

四、誤差分析與控制

• 誤差來源：
  • 設(shè)備：旋轉(zhuǎn)平臺精度（需≤0.1°）、探測器靈敏度。
  • 環(huán)境：雜散光干擾、溫度波動(dòng)。
• 控制措施：
  • 暗室環(huán)境、設(shè)備定期校準(zhǔn)（如使用NIST標(biāo)準(zhǔn)光源）。
  • 數(shù)據(jù)濾波：采用移動(dòng)平均法降噪。

五、應(yīng)用案例

• 案例1：LED車燈檢測 某廠商采用PSD法測得角偏差為0.3°，滿足ECE R112車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
• 案例2：光纖耦合激光器 高溫下HIA從15°增至18°，需優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)。

六、

1. IEC 60747-5-3: Semiconductor devices - Optoelectronic devices.
2. CIE 127-2007: Measurement of LEDs.
3. MIL-STD-883H: Test Method Standard for Microcircuits.