快速溫度變化:兩液槽法(非破壞性的)檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測(cè)設(shè)備,研究所長(zhǎng)期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系,始終以科學(xué)研究為首任,以客戶為中心,不斷提高自身綜合檢測(cè)能力和水平,致力于成為全國(guó)科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺(tái)。
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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。
聯(lián)系中化所
快速溫度變化測(cè)試方法:兩液槽法及其檢測(cè)項(xiàng)目
1. 方法概述
- 溫度切換速率快(可達(dá)到30°C/s以上);
- 液體介質(zhì)導(dǎo)熱效率高(常用硅油、氟化液等);
- 非破壞性,適用于精密電子元件、復(fù)合材料等高價(jià)值樣品。
2. 檢測(cè)項(xiàng)目及技術(shù)規(guī)范
2.1 基礎(chǔ)測(cè)試參數(shù)設(shè)置
參數(shù) | 典型范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) |
---|---|---|
高溫槽溫度 | +85°C ~ +200°C | IEC 60068-2-14 |
低溫槽溫度 | -65°C ~ -40°C | MIL-STD-810H |
駐留時(shí)間 | 5~30分鐘/循環(huán) | JESD22-A104 |
轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10秒(液槽間機(jī)械臂轉(zhuǎn)移) | GJB 150.5A |
循環(huán)次數(shù) | 50~1000次(視樣品等級(jí)) | 自定義或行業(yè)規(guī)范 |
2.2 關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目
2.2.1 物理性能檢測(cè)
-
- 方法:光學(xué)顯微鏡、3D表面輪廓儀
- 檢測(cè)指標(biāo):開裂、分層、形變、涂層脫落
- 判定標(biāo)準(zhǔn):ISO 9022-2(無(wú)可見缺陷)
-
- 方法:氦質(zhì)譜檢漏(真空加壓法)
- 檢測(cè)指標(biāo):泄漏率 ≤1×10?? Pa·m³/s
-
- 方法:熱機(jī)械分析儀(TMA)
- 檢測(cè)指標(biāo):CTE差異 ≤5 ppm/°C(多層材料界面)
2.2.2 電氣性能檢測(cè)
-
- 方法:LCR表(1kHz~1MHz)
- 檢測(cè)指標(biāo):阻抗變化率 ≤±5%(PCB線路、連接器)
-
- 方法:在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)(實(shí)時(shí)記錄)
- 檢測(cè)指標(biāo):信號(hào)中斷、邏輯錯(cuò)誤、功耗異常
-
- 方法:X射線斷層掃描(X-CT)
- 檢測(cè)指標(biāo):空洞率 ≤10%(BGA/CSP封裝)
2.2.3 微觀結(jié)構(gòu)分析
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- 方法:掃描電鏡(SEM)+ EDS能譜
- 檢測(cè)指標(biāo):無(wú)微裂紋、元素?cái)U(kuò)散異常
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- 方法:差示掃描量熱法(DSC)
- 檢測(cè)指標(biāo):無(wú)玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)偏移
3. 失效模式分析
失效現(xiàn)象 | 潛在原因 | 改進(jìn)措施 |
---|---|---|
涂層剝離 | 熱應(yīng)力導(dǎo)致附著力下降 | 優(yōu)化涂層材料CTE匹配性 |
焊點(diǎn)微裂紋 | 錫須生長(zhǎng)/熱疲勞 | 采用低Ag含量焊料 |
密封圈老化泄漏 | 橡膠彈性體硬化 | 更換氟橡膠或全氟醚材料 |
4. 應(yīng)用領(lǐng)域
- 電子器件:芯片封裝、功率模塊、傳感器
- 航空航天:航空電子設(shè)備、衛(wèi)星組件
- 新能源:動(dòng)力電池模組、燃料電池雙極板
- 復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)塑料(CFRP)接頭
5. 注意事項(xiàng)
- 液體介質(zhì)選擇:需與樣品兼容(避免腐蝕、溶脹);
- 溫變速率控制:避免因急速冷卻導(dǎo)致液態(tài)介質(zhì)氣化;
- 數(shù)據(jù)記錄要求:全程記錄溫度曲線、循環(huán)次數(shù)及失效時(shí)間點(diǎn)。

