集電極-發射極截止電流(ICES)檢測技術詳解
一、ICES參數的定義與重要性
二、核心檢測項目清單(GB/T 4587-94標準參考)
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- 測試電壓:VCE標稱值±5%(典型值:30V~100V)
- 溫度范圍:常溫25±2℃/高溫85℃/低溫-40℃
- 持續時間:單次測量≥30秒,老化測試≥1000小時
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測試模式 施加電壓 監測點 允許偏差 正向偏置 VCE=Max Rated CB兩極 ±2% 反向耐壓 VCBO=1.5VCEO BE短接 ±5mV 溫度循環 -40℃↔125℃ 熱沉接觸面 ±1℃ 長期穩定性 85%額定電壓 連續監測 0.1nA分辨率 -
- 電壓斜坡速率:0.1V/s~10V/s掃描
- 高頻響應測試:1MHz交流疊加
- 瞬態沖擊:5μs脈沖過壓測試
三、檢測設備技術要求
- 高阻計:輸入阻抗≥1TΩ
- 恒溫箱:溫控精度±0.5℃
- 防震平臺:振幅<5μm
- 電磁屏蔽室:背景噪聲<1pA
四、故障診斷樹
ICES異常偏高 ├─ 材料缺陷(基區摻雜不均) ├─ 工藝問題(氧化層針孔) ├─ 污染(金屬遷移) ├─ 靜電損傷(ESD擊穿) └─ 測試誤差(接地不良)五、軍工級特殊檢測項目
- 輻射加固測試:γ射線累積劑量100krad(Si)
- 粒子轟擊:1MeV中子注量1×10^14n/cm²
- 真空環境測試:10^-6Torr下持續工作驗證
六、數據處理規范
- 建立批次數據庫,包含:
- 均值/極差控制圖(X-R Chart)
- Weibull失效分布模型
- 8D異常分析報告模板
- 數據采樣率:正常值1Hz,異常值1kHz
七、案例分析
- 常溫ICES=50nA(規格限值≤10nA)
- 熱成像顯示CB結局部熱點
- SEM分析確認金屬遷移路徑
- 改進措施:增加鈍化層厚度至200nm
八、國際標準對比
標準體系 | 測試電壓 | 溫度循環 | 判定標準 |
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JEDEC47 | 80% VCEO | 3次循環 | 變化率<20% |
MIL-STD-883 | 100% VCEO | 5次循環 | 絕對值不超標 |
AEC-Q101 | 動態掃描 | 板級測試 | 批次CPK≥1.33 |
九、前沿檢測技術
- 掃描探針顯微術(SPM)界面態分析
- 低溫(4K)量子隧穿特性測試
- TCAD仿真與實測數據融合分析
十、質量控制要點
- 建立Golden Device對比體系
- 實施GR&R(測量系統分析)
- 制定ORT(持續可靠性測試)計劃
- 關鍵參數CP/CPK過程能力監控


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