電壓監(jiān)測(cè)儀檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測(cè)設(shè)備,研究所長(zhǎng)期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系,始終以科學(xué)研究為首任,以客戶為中心,不斷提高自身綜合檢測(cè)能力和水平,致力于成為全國(guó)科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺(tái)。
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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。
聯(lián)系中化所
電壓監(jiān)測(cè)儀檢測(cè)項(xiàng)目詳解
一、基礎(chǔ)性能檢測(cè)
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- 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)IEC 61000-4-30 Class A(電能質(zhì)量測(cè)量標(biāo)準(zhǔn))或國(guó)標(biāo)GB/T 12325。
- 方法:輸入標(biāo)準(zhǔn)電壓信號(hào)(如220V±20%),比對(duì)監(jiān)測(cè)儀顯示值與高精度源表的誤差,誤差需≤±0.5%。
- 關(guān)鍵指標(biāo):基波電壓、諧波電壓的幅值及相位精度。
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- 范圍覆蓋:測(cè)試設(shè)備能否覆蓋標(biāo)稱電壓范圍(如0~600V)。
- 分辨率驗(yàn)證:檢查最小可識(shí)別電壓變化(如0.1V分辨率)。
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- 模擬電壓突變(如從220V跳變至240V),記錄設(shè)備達(dá)到穩(wěn)定值的時(shí)間,通常要求≤1秒。
二、功能性測(cè)試
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- 設(shè)置電壓閾值(如過壓260V、欠壓180V),觸發(fā)報(bào)警時(shí)需記錄時(shí)間、幅度并輸出觸點(diǎn)信號(hào)。
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- 驗(yàn)證監(jiān)測(cè)間隔可調(diào)性(1秒~15分鐘),存儲(chǔ)容量是否滿足30天以上數(shù)據(jù)保存。
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- 協(xié)議兼容性:Modbus RTU/TCP、IEC 61850等協(xié)議通信穩(wěn)定性。
- 數(shù)據(jù)傳輸完整性:遠(yuǎn)程讀取實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)、歷史記錄的丟包率與延遲。
三、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)
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- 按GB/T 2423.22標(biāo)準(zhǔn),在-25℃~+70℃范圍內(nèi)循環(huán),測(cè)試后精度變化≤±1%。
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- 40℃、95%濕度環(huán)境下運(yùn)行48小時(shí),檢查絕緣性能與功能正常性。
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- 振動(dòng)測(cè)試:10Hz~150Hz隨機(jī)振動(dòng),振幅1.5mm,持續(xù)2小時(shí)。
- 沖擊測(cè)試:半正弦波沖擊加速度15g,驗(yàn)證結(jié)構(gòu)無損傷。
四、安全性能檢測(cè)
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- 使用500V兆歐表測(cè)量輸入端子與外殼間電阻,要求≥100MΩ。
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- 施加2kV工頻電壓1分鐘,無擊穿或飛弧現(xiàn)象。
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- 接地端子與外殼電阻≤0.1Ω,確保防雷擊與漏電保護(hù)有效。
五、長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性
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- 滿載連續(xù)運(yùn)行720小時(shí),監(jiān)測(cè)精度漂移<0.2%。
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- 內(nèi)置時(shí)鐘日誤差≤±1秒,支持SNTP或B碼同步時(shí)誤差≤1ms。
六、電磁兼容性(EMC)測(cè)試
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- 依據(jù)IEC 61000-4系列標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行靜電放電(8kV)、射頻干擾(10V/m)、浪涌(4kV)等測(cè)試,設(shè)備需無異常。
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- 確保設(shè)備電磁輻射符合CISPR 11 Class A限值,避免干擾其他設(shè)備。
檢測(cè)流程建議
- 實(shí)驗(yàn)室標(biāo)定:使用FLUKE 6100B等標(biāo)準(zhǔn)源進(jìn)行基礎(chǔ)性能校準(zhǔn)。
- 現(xiàn)場(chǎng)模擬測(cè)試:接入實(shí)際電網(wǎng),驗(yàn)證動(dòng)態(tài)負(fù)荷下的數(shù)據(jù)捕捉能力。
- 第三方認(rèn)證:通過CMA/ 認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室出具檢測(cè)報(bào)告。
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