- 基礎時序檢測 1.1 讀周期時序驗證
- 地址建立時間（tAS）：地址線穩定到片選/讀信號有效的時間裕度
- 數據有效窗口（tDV）：檢測數據總線從高阻態到穩定輸出的時間特征
- 保持時間余量（tDH）：驗證讀信號失效后數據保持的可靠性
- 地址保持時間（tAH）：寫脈沖結束后地址線保持穩定的最小時間
- 數據建立時間（tDS）：驗證數據信號提前于寫信號建立的時間余量
- 寫恢復時間（tWR）：兩次寫操作之間的最小間隔檢測
- 高級時序檢測 2.1 突發模式時序
- 首字延遲（tCL）：檢測連續讀操作中首個數據的輸出延遲
- 突發周期（tBURST）：驗證后續數據元素的穩定輸出間隔
- 預充電時間（tRP）：行地址切換時的時序裕度檢測
- Bank激活時間（tRCD）：行選通到列選通的最小間隔
- Bank切換延遲（tRRD）：不同bank操作間的最小時間間隔
- 自動刷新周期（tRFC）：刷新操作對存取時序的影響測試
- 環境參數測試 3.1 電壓容限測試
- VDD±10%波動下的存取時間漂移
- 供電電壓斜坡過程中的時序失效臨界點
- 電源噪聲注入測試（50-200MHz紋波影響）
- 建立-25℃~85℃溫箱環境下的時序參數漂移
- 熱沖擊測試（ΔT≥50℃/min）后的時序穩定性
- 結溫與存取時間的線性/非線性關系建模
- 信號完整性檢測 4.1 傳輸線效應分析
- 地址線skew控制在±50ps內的時序影響
- 數據總線串擾導致的建立時間劣化
- 阻抗失配引起的信號振鈴效應檢測
- 建立時間余量掃描（0.1tCK步進）
- 保持時間邊界探測（采用shmoo圖分析法）
- 時鐘抖動容忍度測試（注入50-200ps隨機抖動）
- 儀器配置體系
- 高速數字示波器（≥4GHz帶寬，20GS/s采樣）
- 精密時域反射計（TDR分辨率≤10ps）
- 可編程電源（1mV/1mA調節精度）
- 自動化測試平臺（支持Python/Matlab控制）
- 關鍵測試技術 2.1 眼圖分析法
- 建立數據有效窗口的三維概率分布模型
- 測量數據眼圖的水平/垂直開啟度
- 抖動成分分離（DJ/RJ分解）
- 使用JTAG接口進行DFT測試
- 掃描鏈延遲特征分析
- 故障覆蓋率統計（要求≥95%）
- 數據處理方法
- 應用3σ準則剔除異常數據
- 時序參數的溫度補償算法
- 基于機器學習的時序失效預測
| 測試項目 | 標稱值 | 實測值 | 偏差 |
|---|---|---|---|
| tCL (ns) | 13.75 | 13.82 | +0.5% |
| tRCD (ns) | 13.75 | 14.1 | +2.5% |
| 高溫tAC (ns) | 14.5 | 15.2 | +4.8% |
| 低壓裕度 | 10% | 8.7% | -13% |
- 3D堆疊存儲器的TSV延遲檢測
- 近存計算架構的存內操作時序
- 存算一體芯片的混合時序驗證
- 光子存儲器的光-電轉換延遲測試
- 測試夾具設計規范
- 阻抗控制（±5%偏差）
- 寄生電感≤2nH/pin
- 信號走線長度匹配±50μm
- 誤差控制方法
- 探頭負載校準（補償1pF負載影響）
- 去嵌入技術消除夾具延遲
- 時基校準（使用標準延遲線）
- 失效分析流程
- 建立故障模式庫（含32種典型時序故障）
- 應用故障樹分析法（FTA）
- 進行波形參數相關性分析
材料實驗室
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