GB/T 1553-2009硅和鍺體內少數載流子壽命測定
發布時間：2025-07-08 17:32:56- 點擊數： - 關鍵詞：GB/T 1553-2009硅和鍺體內少數載流子壽命測定
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立即咨詢標準編號：GB/T 1553-2009硅和鍺體內少數載流子壽命測定光電導衰減法
標準狀態：現行
標準簡介：本標準規定了硅和鍺單晶體內少數載流子壽命的測量方法。本標準適用于非本征硅和鍺單晶體內載流子復合過程中非平衡少數載流子壽命的測量。
英文名稱： Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
替代情況： 替代GB/T 1553-1997
中標分類： 冶金>>半金屬與半導體材料>>H80半金屬與半導體材料綜合
ICS分類： 電氣工程>>29.045半導體材料
發布部門： 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
發布日期： 2009-10-30
實施日期： 2010-06-01
首發日期： 1979-05-26
提出單位： 全國半導體設備和材料標準化技術委員會
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