規(guī)定基極-發(fā)射極偏置條件時最大集電極-發(fā)射極高溫截止電流檢測
發(fā)布時間：2025-05-21 08:27:35- 點擊數(shù)： - 關(guān)鍵詞：
實驗室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測設(shè)備，研究所長期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系，始終以科學(xué)研究為首任，以客戶為中心，不斷提高自身綜合檢測能力和水平，致力于成為全國科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺。
立即咨詢網(wǎng)頁字號：【大 中 小 】 | 【打印】 【關(guān)閉】 微信掃一掃分享：
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。
基極-發(fā)射極偏置條件下最大集電極-發(fā)射極高溫截止電流檢測指南
一、檢測目的
- 量化晶體管在高溫截止狀態(tài)下的漏電流性能；
- 驗證器件是否符合高溫應(yīng)用場景的規(guī)格要求；
- 篩選潛在缺陷（如PN結(jié)漏電、材料缺陷等）。
二、檢測原理
- 偏置條件：B-E反向偏置（通常為0V或負壓），確保晶體管截止；
- 溫度條件：高溫環(huán)境（如125℃），加速熱效應(yīng)；
- 電流讀取：測量C-E間漏電流的最大值。
三、檢測設(shè)備清單
| 設(shè)備名稱 | 功能說明 |
|---|---|
| 高低溫試驗箱 | 提供恒定的高溫環(huán)境（±1℃精度） |
| 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 | 施加偏置電壓并精確測量電流（nA級） |
| 探針臺/測試夾具 | 確保晶體管引腳可靠接觸 |
| 防靜電工作站 | 防止靜電放電（ESD）損壞器件 |
四、檢測步驟
- 確認器件規(guī)格書中的高溫????ICEO?最大值（如10μA@125℃）；
- 校準參數(shù)分析儀，設(shè)置電壓源量程和電流表靈敏度；
- 將晶體管固定于測試夾具，連接B、E、C三極并接地。
- 將測試夾具置入高低溫箱，升溫至目標溫度（如125℃），恒溫30分鐘；
- 監(jiān)測溫度穩(wěn)定性，確保波動范圍≤±2℃。
- B-E間施加反向偏置電壓（如???=−0.5?VBE?=−0.5V，具體參考規(guī)格書）；
- C-E間施加額定電壓（如???=5?VCE?=5V），避免擊穿。
- 讀取參數(shù)分析儀的????ICEO?值，記錄穩(wěn)定后的峰值；
- 重復(fù)測量3次，取平均值以消除噪聲干擾。
五、結(jié)果判定標準
- 合格：實測????ICEO? ≤ 規(guī)格書標稱最大值（如10μA）；
- 不合格：實測值超出規(guī)格，或呈現(xiàn)指數(shù)級增長（可能為材料缺陷）。
六、注意事項
- 溫度均勻性：確保晶體管芯片與測試環(huán)境溫度一致，避免局部過熱；
- 接觸阻抗：清潔探針觸點，降低接觸電阻對微小電流的影響；
- 靜電防護：操作全程佩戴防靜電手環(huán)，避免器件擊穿；
- 數(shù)據(jù)記錄：同步記錄溫度、偏置電壓及電流波形變化。
七、常見問題與解決方案
| 問題現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 電流讀數(shù)不穩(wěn)定 | 溫度波動或接觸不良 | 檢查恒溫箱穩(wěn)定性，重新固定探針 |
| ????ICEO?異常偏高 | PN結(jié)漏電或污染 | 清潔器件表面，復(fù)測確認是否為批次性問題 |
| 無電流信號 | 偏置電壓未正確施加 | 檢查電路連接，確認參數(shù)分析儀配置 |
八、
轉(zhuǎn)成精致網(wǎng)頁
材料實驗室
熱門檢測
15
13
15
13
17
17
19
14
24
18
18
17
22
21
21
23
20
23
20
26
推薦檢測
聯(lián)系電話
400-635-0567
掃一掃關(guān)注公眾號
