超聲檢測用試塊的檢測項(xiàng)目詳解

一、試塊的分類與作用

1. 標(biāo)準(zhǔn)試塊（如IIW、CSK系列）
   • 用于儀器和探頭的系統(tǒng)性能校準(zhǔn)，如聲速、分辨率、盲區(qū)檢測等。
   • 材質(zhì)、尺寸及反射體均遵循國際/國家標(biāo)準(zhǔn)（如ISO、ASTM、GB/T）。
2. 對(duì)比試塊
   • 模擬實(shí)際工件材質(zhì)與缺陷特征，用于靈敏度調(diào)整和缺陷當(dāng)量評(píng)定。
   • 常見類型：平底孔試塊（如Φ2橫孔）、槽型試塊、階梯試塊等。

二、核心檢測項(xiàng)目及操作方法

1. 儀器與探頭靈敏度校準(zhǔn)

• 目的：確保檢測系統(tǒng)對(duì)缺陷信號(hào)的響應(yīng)一致性。
• 方法：
  • 使用標(biāo)準(zhǔn)試塊（如CSK-IA）調(diào)整增益，使指定反射體（如Φ2橫孔）達(dá)到基準(zhǔn)波高（如80%滿屏）。
  • 對(duì)比試塊用于實(shí)際檢測靈敏度的設(shè)定（如焊縫檢測中的DAC曲線繪制）。

2. 聲速與探頭參數(shù)測試

• 檢測參數(shù)：材料聲速、探頭入射點(diǎn)（前沿）、折射角（K值）、延遲。
• 操作步驟：
  1. 使用IIW試塊或CSK-IA試塊的圓弧面或橫孔，測量聲波傳播時(shí)間，計(jì)算聲速。
  2. 通過試塊上的已知厚度反射體（如25mm、100mm臺(tái)階）校準(zhǔn)探頭延遲。
  3. 利用試塊標(biāo)尺測量探頭前沿，通過特定角度反射體（如CSK-IA的65°橫孔）校準(zhǔn)折射角。

3. 分辨力測試

• 目的：評(píng)估儀器區(qū)分相鄰缺陷的能力。
• 試塊應(yīng)用：
  • 使用CSK-IA試塊的Φ50mm和Φ44mm圓弧面，調(diào)整增益使兩波峰等高，觀察波谷分離程度。
  • 分辯率合格標(biāo)準(zhǔn)：波谷高度≤20%波峰高度。

4. 盲區(qū)檢測

• 定義：探頭近場區(qū)域內(nèi)無法識(shí)別缺陷的最小距離。
• 測試方法：
  • 選用盲區(qū)專用試塊（如包含不同深度平底孔的階梯試塊），逐步增加探頭與缺陷的距離，記錄可識(shí)別缺陷的最小深度。

5. 距離-幅度曲線（DAC曲線）

• 用途：校正不同深度缺陷的靈敏度衰減。
• 操作流程：
  1. 在對(duì)比試塊上選取多個(gè)深度反射體（如橫孔或平底孔）。
  2. 依次獲取各反射體最高回波，連接形成DAC曲線。
  3. 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（如ASME、EN）設(shè)置評(píng)定線、定量線、判廢線。

6. 缺陷定量與定位精度驗(yàn)證

• 定量檢測：
  • 使用含不同尺寸人工缺陷（如平底孔、槽）的對(duì)比試塊，驗(yàn)證儀器對(duì)缺陷當(dāng)量（如Φ2mm平底孔）的判定誤差。
• 定位檢測：
  • 通過試塊已知位置的反射體（如CSK-IIIA的交叉槽），驗(yàn)證水平/深度方向的定位偏差。

7. 系統(tǒng)線性測試

• 檢測內(nèi)容：垂直線性（幅度精度）與水平線性（時(shí)間基線精度）。
• 方法：
  • 垂直線性：使用CSK-IA試塊的多次底面反射，調(diào)節(jié)增益使第一次回波達(dá)80%滿屏，后續(xù)反射波衰減應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)誤差（如±5%）。
  • 水平線性：校準(zhǔn)時(shí)間基線與試塊厚度刻度的一致性。

8. 材料衰減與表面狀態(tài)影響評(píng)估

• 試塊選擇：與待檢工件同材質(zhì)的對(duì)比試塊（如鍛件用鋼制試塊）。
• 檢測要點(diǎn)：
  • 對(duì)比粗糙度不同區(qū)域的回波差異，評(píng)估表面處理對(duì)檢測靈敏度的影響。
  • 通過底面回波衰減值計(jì)算材料衰減系數(shù)。

三、檢測注意事項(xiàng)

1. 環(huán)境溫度：聲速受溫度影響，需在試塊標(biāo)定溫度（通常20℃±5℃）下操作。
2. 耦合劑一致性：檢測試塊與實(shí)際工件需使用相同耦合劑（如機(jī)油、甘油）。
3. 試塊維護(hù)：定期校驗(yàn)試塊表面磨損、銹蝕情況，避免因試塊損壞導(dǎo)致校準(zhǔn)失效。
4. 標(biāo)準(zhǔn)符合性：嚴(yán)格遵循檢測標(biāo)準(zhǔn)（如NB/T 47013、ASTM E317）的試塊使用規(guī)范。

四、總結(jié)