鍍銀軟圓銅線檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)室擁有眾多大型儀器及各類(lèi)分析檢測(cè)設(shè)備,研究所長(zhǎng)期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系,始終以科學(xué)研究為首任,以客戶(hù)為中心,不斷提高自身綜合檢測(cè)能力和水平,致力于成為全國(guó)科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺(tái)。
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鍍銀軟圓銅線作為電子元器件、電氣連接、高頻通信等領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)材料,其性能直接影響產(chǎn)品的導(dǎo)電性、耐腐蝕性和使用壽命。隨著精密制造行業(yè)對(duì)材料性能要求的不斷提高,對(duì)鍍銀銅線進(jìn)行系統(tǒng)化檢測(cè)已成為保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。鍍銀層的均勻性、附著強(qiáng)度以及銅基材的機(jī)械性能等指標(biāo),都需要通過(guò)科學(xué)的檢測(cè)手段進(jìn)行驗(yàn)證,確保符合GB/T 4909、ASTM B298等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)要求。
一、外觀與幾何尺寸檢測(cè)
采用10倍放大鏡對(duì)表面鍍層進(jìn)行目視檢查,要求銀層連續(xù)均勻,無(wú)漏鍍、起泡、劃痕等缺陷。使用千分尺在每米長(zhǎng)度內(nèi)取3個(gè)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行直徑檢測(cè),橢圓度偏差應(yīng)控制在±0.002mm以?xún)?nèi)。特殊應(yīng)用場(chǎng)景還需使用激光測(cè)徑儀進(jìn)行在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
二、鍍層性能檢測(cè)
通過(guò)X射線熒光光譜儀(XRF)測(cè)定鍍層厚度,銀層厚度通常要求1-5μm。劃格法測(cè)試時(shí),膠帶撕離后鍍層脫落面積不得超過(guò)5%。使用硫化物試驗(yàn)箱進(jìn)行耐腐蝕測(cè)試,暴露24小時(shí)后表面不得出現(xiàn)明顯變色或腐蝕斑點(diǎn)。
三、機(jī)械性能測(cè)試
采用萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行拉伸測(cè)試,延伸率應(yīng)≥15%,抗拉強(qiáng)度需達(dá)到210-380MPa范圍。反復(fù)彎曲測(cè)試要求銅線在直徑10倍心軸上彎曲90°三次后,表面鍍層無(wú)開(kāi)裂現(xiàn)象。纏繞測(cè)試需滿(mǎn)足纏繞6圈后無(wú)鍍層剝落的技術(shù)要求。
四、電學(xué)性能評(píng)估
使用四探針電阻測(cè)試儀在20℃環(huán)境測(cè)量,電阻率應(yīng)≤0.01724Ω·mm2/m。高頻特性測(cè)試需在1-10GHz頻率范圍內(nèi),表面粗糙度Ra值需≤0.2μm以保證趨膚效應(yīng)穩(wěn)定。通過(guò)TDR時(shí)域反射儀檢測(cè)信號(hào)傳輸完整性,反射系數(shù)應(yīng)≤0.05。
五、化學(xué)成分分析
采用ICP-OES光譜儀測(cè)定銅基材純度,要求銅含量≥99.95%。鍍銀層的銀純度需≥99.9%,通過(guò)SEM-EDS能譜分析檢測(cè)表面雜質(zhì)元素含量,鉛、鎘等有害元素不得超過(guò)50ppm。酸霧試驗(yàn)后收集溶液進(jìn)行原子吸收光譜檢測(cè),銀離子析出量應(yīng)<0.1mg/L。
六、環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試
依據(jù)IEC 60068標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行溫度循環(huán)試驗(yàn)(-55℃~+125℃循環(huán)10次),測(cè)試后電阻變化率≤3%。濕度試驗(yàn)要求85℃/85%RH環(huán)境下保持1000小時(shí)后,鍍層保持完整無(wú)氧化。鹽霧試驗(yàn)需通過(guò)48小時(shí)中性鹽霧測(cè)試,表面腐蝕面積不超過(guò)5%。

